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长春海洋光电有限公司


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  产品展示
 
 激光系列产品 >> 激光测试测量仪器 >> Hi-Q光学测试测量系统
 
产品编号:
5514593416
产品名称:
Hi-Q光学测试测量系统
规  格:
产品备注:
产品类别:
激光系列产品
 
   产 品 说 明

美国OEwaves公司的HI-Q光学测试测量系统提供了完全自动化地测量连续激光器或激光光源的超低相位噪声测量。这个光学测试测量系统能够快速地测量激光相位噪声,评估其线宽的半高宽度低至< 3 Hz,而无需复杂的测试架构和参考激光即可作这样的窄线宽测量。

该系统在宽带测量方面是独一无二的,它不要求另外的低噪声参考激光光源。该系统操作简单、方便、快速、精度,且无需附加额外的测试设备。这台独一无二的超低相位/频率噪声分析仪可扩展到不同的输入波段,并用于低相对强度噪声测量。

 

特点

超低相位/频率噪声测量

快速实时测量

即刻和扩展的FWHM线宽分析

需要低噪声参考光源

用户友好界面

简单的基于PC的操作

▪ 3U x 19英寸机架系统

可定制的配置、升级和选项

 

光学测试测量系统

型号

OE4000

波长

1530 – 1565 nm

动力学范围

60dB

光学输入功率范围

+5 to +15 dBm (PM-FC/APC)

测量类型

频率噪声/零差相位

数据存储与I/O

HDD / USB端口

带宽分辨率

0.1 Hz – 200 kHz

电源电压

110 / 120 or 220 / 240 Vac ; 50 / 60Hz

光学测试测量系统尺寸

3U x 19英寸机架式

低或高输入功率范围

可选

波长范围(可选)

740 – 935 / 965 – 1065 / 1000 – 1100 / 1260 – 1360 / 1530 – 1625 / 1950 – 2150 (nm)

(选择多波长范围以及定制波长范围请咨询)

 

可选择的配置

630 nm  -  2200 nm范围内多个输入波段

超低噪声基底

相对强度噪声测量

扩展的偏移频率范围可达2 GHz

扩展的输入功率范围

远程操作

性能和频率

定制范围选择和升级

 

 

点击数:635  录入时间:2019/5/5 【打印此页】 【关闭
 
 
 

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电话:0431-89561560 网址:www.ocean-optical.com 

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